| 产品特性：BRUKER | 是否进口：否 | 产地：德国 |
| 加工定制：否 | 类型：白光干涉仪 | 品牌：布鲁克/Bruker |
| 型号：ContourX | 品种：其他干涉仪 | 测量范围：0.1nm 至 10mm（闭环无拼接） |
| 测量分辨率：0.1nm | 最近工作距离：150mm | 用途：材料表面粗糙度 |
布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000
落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。
全新的一键式***寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，***提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不***扣的***测量。
特点：
·可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和***的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。
·自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。
·提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。
光学轮廓分析设备硬件设计的***
ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，***的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且***的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。
技术参数
强大的自动化测量和分析的***
全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定***的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。
简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到测试结果。
即使在多用户环境中，每个使用者都可通过***查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。
测量准确性与鲁棒性的基准
除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取的稳定性和与其他工具的匹配能力。
即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。
