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| 产品特性：白光干涉仪 | 是否进口：否 | 产地：德国 |
| 加工定制：否 | 类型：白光干涉仪 | 品牌：布鲁克/Bruker |
| 型号：ContourX-200 | 品种：其他干涉仪 | 测量范围：0.1nm 至 10mm（闭环无拼接） |
| 测量分辨率：0.1nm | 最近工作距离：150mm | 用途：材料表面粗糙度、二维/三维表面轮廓以及多种高精度数据 |
三维光学显微镜
布鲁克作为三维表面测量与观察***的，提供从微观如MEMS（微机电系统）到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代，在原有Wyko?专有技术基础上，不断积累创新，来***面对各种应用环境时***三维测量所需的高灵敏度和稳定性；而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。
布鲁克三维光学显微系统在***一直以服务和支持著称，在性能稳定性上一贯***良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间，数以几千计的系统被广泛使用。作为门为***质量控制和研发设计的测量仪器，可用于精密加工制造类应用的监控，在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和医疗器械领域，布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。
ContourX-200 3D光学轮廓仪
用于表面纹理计量的灵活台式
ContourX-200光学轮廓仪将***的特性，可自定义的选项以及易用性***融合，可提供的快速，准确和可重复的非接触式3D表面度量。具有测量功能的小尺寸系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和新型电动XY位移台，可提供毫不妥协的2D / 3D高分辨率测量功能。 ContourX-200还配有业的操作和分析软件Vision64?。新型VisionXpress?提供了更易于使用的界面和简化的功能，可访问广泛的预编程滤镜和分析库，用于精密加工的表面，厚膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学应用。 ContourX-200具有***的Z轴分辨率和精度，在不限制传统共聚焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的情况下，提供了布鲁克***白光干涉仪（WLI）技术的所有。
ContourX-200 3D光学轮廓仪
轮廓GT-K
毫不妥协的计量
基于ContourX-200光学轮廓仪超过四十年的专有WLI创新，该轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声，高速，高精度和高精度结果。通过使用多个目标和集成的特征识别功能，可以在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征，从而为非常不同的行业中的质量控制和过程监控应用提供了与比例无关的结果。 ContourX-200在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。
轮廓X-200
WLI为所有目标提供恒定且的垂直分辨率。
轮廓X-200
ContourX-200电动载物台。
广泛的应用分析能力
利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200提供了数千种定制分析，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新相机提供的更大FOV和新型电动XY工作台提供的灵活性，为各种样品和零件提供了更大的灵活性和更高的通量。硬件和软件相结合，可提供对光学性能的简化访问，完全超越了同类计量功能。
