| 产品特性：白光干涉仪 | 是否进口：否 | 产地：德国 |
| 加工定制：否 | 类型：白光干涉仪 | 品牌：布鲁克/Bruker |
| 型号：ContourX-100 | 品种：其他干涉仪 | 测量范围：0.1nm 至 10mm（闭环无拼接） |
| 测量分辨率：0.1nm | 最近工作距离：150mm | 用途：材料表面粗糙度、二维/三维表面轮廓以及多种高精度数据 |
三维光学显微镜
布鲁克作为三维表面测量与观察，提供从微观如MEMS（微机电系统）到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代，在原有Wyko?专有技术基础上，不断积累创新，来***面对各种应用环境时***三维测量所需的高灵敏度和稳定性；而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。
布鲁克三维光学显微系统在***一直以服务和支持著称，在性能稳定性上一贯***良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间，数以几千计的系统被广泛使用。作为专门为***质量控制和研发设计的测量仪器，可用于精密加工制造类应用的监控，在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和医疗器械领域，布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。
ContourX-100 3D光学轮廓仪
粗糙度测量的精简而经济的台式
ContourX-100光学轮廓仪以的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的***。小尺寸系统采用流线型封装，可提供***的2D / 3D高分辨率测量功能，并结合了数十年***布鲁克白光干涉测量（WLI）创新技术。具有测量功能的台式系统具有进的用户友好界面，可直观访问广泛的预编程过滤器库，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头，更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。
ContourX-100 3D光学轮廓仪
轮廓GT-K
***的计量
ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量，表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和行业。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。 ContourX-100在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。
轮廓X-100
WLI为所有目标提供恒定且的垂直分辨率。
轮廓X-100
ContourX-100手动平台。
***的价值和分析
ContourX-100台式机具有成千上万的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress?和Vision64?用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合，可提供对高通量光学性能的简化访问，完全超越了同类计量技术。
