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BRUKER 扫描探针显微镜 MultiMode 8HR
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BRUKER 扫描探针显微镜 MultiMode 8HR

MultiMode平台是应用广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经成功安装使用了近万套。它的成功基于的高分辨率和高性能,的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜

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    北京 朝阳区 酒仙桥路14号53幢6层616室
产品特性:原子力是否进口:否产地:美国
加工定制:否品牌:布鲁克型号:Dimension Edge
测量范围:XY: 90μm x 90μm(典型值),85μm(最小值) ; Z: 10μm(典型值), 9.5测量精度:0.1微米分辨率:0.1nm
电源电压:380V用途:表征测量光学系统光学系统:5百万像素数字摄像头;180μm至1465μm可视区域; 数字化缩放,马达 驱动聚焦
控制器:NanoScope V马达驱动样品台(X-Y轴:180mm × 150mm可观测区域; 单向2μm重复性;双向3μm重复性

BRUKER 扫描探针显微镜 MultiMode 8HR详细介绍

BRUKER  扫描探针显微镜 MultiMode 8HR

MultiMode平台是广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在成功安装使用了近万套。它的成功基于的高分辨率和高性能,  的多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其***的自动图像优化技术,使得用户无论具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中迅速地获得符合要求的研究成果。

           SPM的控制电路也是影响性能的重要因素,第五代的NanoScope V控制器具有的数字架构:具有高数据带宽,低噪声数据采集和  的数据处理能力。布鲁克的***的技术已经***工业上的新标准,例如:ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。
          Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷,适合于生物学,聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35?C到250 ?C范围内对样品进行温度控制;并可以在水,溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时,采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。



技术参数:

1. 显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头
AS-0.5系列:横向(X-Y)范围0.4?m×0.4?m,竖直(Z)范围0.4?m
AS-12系列:横向(X-Y)范围10?m×10?m,竖直(Z)范围2.5?m
AS-130系列:横向(X-Y)范围125?m×125?m,竖直(Z)范围5.0?m
PF50:横向(X-Y)范围40?m×40?m,竖直(Z)范围20?m
2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)
3. 样品大小:直径≤15mm, 厚度≤5mm
4. 针尖/悬臂支架:
    空气中轻敲模式/接触模式(标准)
    液体中轻敲模式/力调制(可选) 
    空气中力调制(可选);电场模式(可选)
    扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
    STM转换器(可选)
    低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选)
    电化学AFM或STM液体池(可选)
    扭转共振模式(可选)
5. 防震和隔音:
    硅胶共振模式(可选)
    防震三脚架(可选) ;防震台(可选) 
    集成的防震台和隔音罩(可选)



主要特点:

1. 高分辨率
2. ***的扫描能力
3. 优异的可操作性
4. ***的灵活性与功能性
5. ***的应用扩展性
Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术,包括:
 轻敲模式(Tapping Mode AFM)
 接触模式(Contact Mode AFM)
 自动成像模式(ScanAsyst)
 相位成像模式(Phase Imaging)
 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
 力调制(Force Modulation)
 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
 其他更多模式....

 


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